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近場探頭
 
 
RF1
針對越來越復雜的電子產品,LANGER公司開發了多種近場測試探頭,用于近場測試和產品整改(Debug)。
整改測試可用于產品研發的任何階段主要目的是找出干擾源并了解干擾的頻率和能量。
 
RF2
整改測試量測設備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀組成。
 
RF3

所有的電磁干擾都可分為兩種分量:一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進行近場量測。
 
RF4E
電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進行近場量測。所以,可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源。可根據電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度,從而找出輻射大的零件或電路。
 
LF1
所有的電磁干擾都可分為兩種分量:一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進行近場量測。所以,可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源。可根據電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度,從而找出輻射大的零件或電路。
 
H1
可采用不同的方式,向電子模塊直接注入突發性的電場干擾或磁場干擾,進而定位電路板上的弱點,且可理解其耦合原理,幫助工程師排除ESD和EFT問題。
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