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IC測試板
 
 

IC S 103集成電路電磁干擾掃描系統

特點:
  IC Scanner(集成電路電磁場掃描系統)能使用ICR近場探頭,對集成電路進行精確的電磁場掃描測量。探頭可以在集成電路表面進行三維移動并可以沿z軸旋轉。掃描器的頂部是敞開的,允許用戶使用顯微鏡觀察探頭位置。

應用:
 * 使用IC-芯片近場探頭掃描集成電路的表面電磁場分布
 * 在新IC設計階段使用
 * 調試IC內部的電場和磁場耦合
 * 對IC的引腳分配進行最優化設計

主要技術指標:

X Y Z Z-旋轉
最大行進范圍 25mm 25mm 25mm 360°
最小行進軌跡 5μm 5μm 5μm
行進速度 5mm/s 5mm/s 5mm/s 90°/s


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